新方案可預(yù)測(cè)太空集成微電路故障
2017年12月05日 文章來(lái)源：科技日?qǐng)?bào)
俄國(guó)立核能研究大學(xué)“莫斯科理工學(xué)院”微電子和納米電子部門的工作人員提出了一種新的技術(shù)方案，可以預(yù)測(cè)太空集成微電路的故障。
現(xiàn)代氣象衛(wèi)星、通信衛(wèi)星和地球觀測(cè)衛(wèi)星在軌道至少應(yīng)運(yùn)行10年—15年，失常原因通常是機(jī)載電子設(shè)備發(fā)生故障?，F(xiàn)在，集成電路元件尺寸縮小到納米級(jí)別，這導(dǎo)致多種故障發(fā)生，比如，一個(gè)宇宙微粒可以同時(shí)在幾個(gè)邏輯元件或存儲(chǔ)單元引起錯(cuò)誤，從而造成故障或不可逆的損壞。
為解決這一問(wèn)題，研究團(tuán)隊(duì)發(fā)明了一種新方法，可以處理地面實(shí)驗(yàn)的結(jié)果，并計(jì)算出故障發(fā)生的頻率，在技術(shù)和程序方面能對(duì)最新設(shè)計(jì)的現(xiàn)代納米集成電路進(jìn)行預(yù)測(cè)，從而有效避免其在太空中的多種故障。
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